株式会社ニコンインステック
| 出展者名 | 株式会社ニコンインステック |
|---|---|
| 英文社名 | NIKON INSTECH CO., LTD. |
| 小間番号 | 6A-431 |
| 住所 |
〒108-6290 東京都 港区港南２－１５－３ 品川インターシティＣ棟 |
| Address |
Shinagawa Intercity Tower C, 2-15-3, Konan, Minato-ku, Tokyo 108-6290 |
| ホームページURL | www.nikon-instruments.jp/ |
| メールアドレス | |
| 電話番号 | 03-6433-3980 |
| FAX番号 | 03-6433-3991 |
| Telephone | +81-3-6433-3980 |
| Facsimile | +81-3-6433-3991 |
| PR文 | 弊社 ニコンインステックは、光学機械器具、測定機械器具、検査機器を中心に、販売及び保守を行っています。検査の省力化や、自動化、高精度化のテーマを、お持ちのお客様には、確かなソリューションを、ご提案させて頂きます。Webでの、ご相談も、お待ちしていますので、宜しくお願いします。 |
| 代表的な出展製品 |
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| 出展製品[1] | CNC画像測定システムNEXIV 共焦点(コンフォーカル)モデルVMZ-Kシリーズ |
| 出展製品詳細[1] |
2次元測定と高さ測定が同時にできる、1台2役の高機能システム。 対物レンズの選択により、微細な高さ測定を実現。 大型化、高分解能ニーズに応える、大ストロークタイプ、高倍タイプをラインナップ。 ◆特徴 ▽微細な立体形状の高速／高分解能検査を1台で対応 明視野画像による二次元測定に加えて、共焦点光学系による視野内一括高さ測定が可能。低ディストーション、平坦な焦点面、長作動距離などの測定機に適した光学技術に加え、精密な位置決め・制御技術を駆使して、コンフォーカルNEXIVは成り立っています。 ▽コンフォーカル光学系を搭載 合焦時のみ共焦点画像としてカメラが検出。高さ方向に光学系を移動させながら複数の共焦点画像を合成し、クリアな高さ画像を構築します。 ▽高コントラスト・段差のある／透明度が高く薄いサンプルに最適 輝度差が大きい、反射が不安定な透明サンプルなどは、正確な数値の取得が困難な場合がありますが、共焦点測定で正確に形状／高さを測定します。 ▽高機能で洗練されたユーザインターフェイス 二次元測定と高さ測定を同一視野で高速／高精度に実行。立体形状の測定・評価を効率的に行えます。従来のNEXIVシリーズの測定ツールに加え、形状に合わせた測定ツールも用意し、複数測定コードによる画面内一括測定が可能です。 ◆測定事例 ・プリント基板の銅線と基板のような、輝度差の大きいサンプルのパターンの測定 ・金属にコーティングされた透明フィルムの表面形状、膜厚の測定 ・ボンディングワイヤーのワイヤー高さの測定 ・最先端パッケージ上のバンプ高さの測定 その他、液晶関連部品、ＭＥＭＳ、コネクタ・電装部品、リチウムイオン電池などの 測定実績もございます。 |
| 出展製品[2] | CNC画像測定システム NEXIV VMZ-Rシリーズ |
| 出展製品詳細[2] |
立体部品や基板など、多彩なサンプルに応じたきめ細かな測定が可能なVMZ-Rシリーズをご用意しております。 NEXIVは寸法検査、平面形状測定、断面形状測定、画像AF・LAFを使用した高さ測定・平面度測定、CAD図形を利用した輪郭度測定等々様々な測定が可能。 複数個のサンプルをステージ上に並べる事による自動化・省力化に対応します。 ■3種類の入射角度に対応した8分割LED照明 垂直照明はもちろん、37°,55°,78°の3つの入射角度による照明照射が可能。 微妙なエッジの検出をさまざまなサンプルで容易に行えます。 ■測定用途に応じた6タイプの光学ズームヘッド ・標準倍率ズームヘッド（タイプ1～3） 垂直落射／透過／8分割リング（3入射角）の3種類の照明を備えた、低倍～中倍域観察／測定向けのズームヘッド。 サンプルの測定寸法と必要倍率に応じて、各5段階ズームを持つ3タイプからお選び頂けます。 ・高倍率ズームヘッド（タイプ4／タイプTZ） 中倍～高倍域観察／測定に適したタイプ4と、低倍から高倍までを1台でカバーできるタイプTZの2種をご用意しています。 タイプ4は垂直落射／透過／8分割リング（1入射角）、タイプTZは垂直落射／透過（高倍のみ）／暗視野照明を備えています。 ・広視野ズームヘッド（タイプA） 長作動距離が特長の低倍ズームヘッド。 垂直落射／透過／8分割リング照明（1入射角）の3種の照明を備えています。 ■厚さ0.1mmの透明体も検出 TTLレーザオートフォーカスの新開発により、検出性能が大幅に向上。 従来の高速／高精度測定に加え、LCD保護膜等を代表とする微小な透明体の厚み検出も可能になりました。 ■主な仕様 X軸、Y軸精度：1.2+4L/1000μm XY軸測定精度 ：2+4L/1000μm Z軸測定精度 ：1.2+5L/1000μm ストローク ：300×200×200mm、450×400×200mm、650×600×200mm 照明 ：タイプ1～4：垂直落射、透過、8分割リング照明（全系統白色LED光源/タイプ1～3は3角度、タイプ4は1角度） タイプTZ ：垂直落射、透過、暗視野照明 タイプA ：垂直落射、透過、8分割リング照明（全系統白色LED光源/1角度） |
| 出展製品[3] | 工業用正立顕微鏡 ECLIPSE LV150N / LV150NA |
| 出展製品詳細[3] |
観察方法／目的に応じてスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応。 電動タイプ／手動タイプを用途に応じてお選びいただけます。 工場での検査や大学・研究機関での研究など様々な用途にお応えします。 ■さらに進化した光学性能 - 対物レンズ CFI60-2 「高NAと長作動距離の両立」という独自のコンセプトで高い評価を頂いているCFI60光学系が、世界最高峰の長作動距離／色収差の向上／軽量化を達成してさらに進化しました。 ■デジタルカメラとの連携 顕微鏡デジタルカメラ DS-Fi3は590万画素CMOSイメージセンサー搭載の高精細カメラです。 高速データ読み出しと優れた色再現性・高い量子効率により、明視野・微分干渉・位相差・蛍光などあらゆる観察方法において快適な撮影が行えます。 ■専用ソフトウェア NIS-Elements 専用ソフトウェア NIS-Elementsを用いることで、対物レンズ情報の検出、対物レンズの切り替えの他、豊富な手動計測、高度な画像処理・解析が可能です。 さらに、インテリジェントレボルバーと新開発の倍率検出レボアダプターの組み合わせで、現在使用中の対物レンズの情報を検出し、変倍時には適切なキャリブレーションデータに自動変更します。 ■多彩な観察方法 豊富なアクセサリーの組み合わせにより、明視野／暗視野／微分干渉／蛍光／偏光／二光束干渉観察に対応。 半導体デバイス、パッケージ、FPD、電子部品、素材・材料、精密金型など多岐に渡る産業分野向けの用途にご利用いただけます。 |
| 出展製品[4] | 倒立顕微鏡MA200＋高精細顕微鏡デジタルカメラDS-Ri2 |
| 出展製品詳細[4] |
前面に集中した操作部/顕微鏡情報パネルが、観察の効率化をサポート。 ☆開口絞り/視野絞り、調光ダイヤル、偏光ユニット、明視野/暗視野切替レバーなどの操作部を全て前面に配置したフロントオペレーションの徹底でかつてない使い易さを実現。 ☆『高NAと長作動距離の両立』という独自のコンセプトで高い評価を頂いているCFI60光学系対物レンズ。 現在使用している対物レンズの番地を自動検出し、本体前面に表示。最大7本の対物レンズを同時装着で多種の検査をシームレスに継続。 新開発の１X対物レンズと視野数φ25mmの超広視野接眼レンズの組合せにより、直径25mmのサンプル全域を一度に視野に入れる事が可能。 さらなる照明の均一化により、明るさに偏りのないクリアな観察像を実現。 使用状況に依り、オーバーホールによる本体クリーンアップも可能。 ☆移動量50X50mmの高剛性スケールは作業者の疲労軽減を考慮したフレキシブルハンドルを採用。更にステージにXYのスケール搭載。樹脂包埋サンプルをサイズ別・中心にセット出来る専用のガイド付きホルダと組合せで被見物の観察位置を容易に確認可能。 ☆顕微鏡デジタルカメラDS-Ri2はニコンの高級一眼レフカメラで培ったCMOSイメージセンサー技術や画像処理技術を顕微鏡観察に最適化。FXフォーマット（36.0mmX23.9mm）の高感度CMOSで『見たまま』の視野、画質を忠実に表現。 USB3.0データ転送により、フレームレートを大幅に向上、高精細な画像も素早いピント合わせが可能。 MA200との組合せで金属組織をマクロからミクロまで比類ない高精細な画像を高速で取得可能。 画像ソフトウェアNisElementsシリーズとの連携。 HDR・手動計測・EDF・ラージイメージなどの各種画像処理機能や顕微鏡との連携でソフトウェアからの調光、露光条件の登録などシステムとして充実のユーザビリティが可能。 |
| 出展製品[5] | 実体顕微鏡SMZ745T＋顕微鏡用デジタルカメラDSシリーズ |
| 出展製品詳細[5] |
接眼レンズ10ｘ装着時の総合倍率6.7X～50X（補助対物、接眼レンズの組合せにより3.35X～300X）の使い易い倍率域で、115mmの広い作動距離で操作性を重視。標準的な組合せ（本体＋接眼レンズ＋プレーンスタンド）で希望小売価格223,000のお求め易い価格帯。 ☆現場に強い、安心構造。 ・Anti-fungal 高温多湿の環境での使用にも安心な、ニコン独自のカビ防止処理。 ・Anti-electrostatic 顕微鏡にチャージされた静電気を速やかに放電し、歩留まり向上に貢献する帯電防止機構。放電性能：1000～10V、0.2秒以内。 ☆豊富なオプション類 サンプルの高さ・検査内容・環境などに豊富なオプションで対応。 ・ユニバーサルスタンド 標準のスタンドに乗らないような大きな試料の検鏡に便利。スタンドのアームにフォーカスマウントを介して、実体顕微鏡本体を取付可能。現場の環境・条件に応じて3種のユニバーサルスタンドを用意。 ・照明装置 検査内容に応じてリング照明、アーム照明、透過照明（スタンド）などが選択可能。 ・ステージ XYステージや傾斜・スライディングステージを用意。 ☆モニター観察・画像取得 顕微鏡デジタルカメラからの画像取得/計測が出来るアプリケーションをリリース。 高精細・高感度なオールラウンドカラーカメラDS-Fi3、高精細カラーカメラDS-Ri2をデスクトップPCorタブレットPC、いずれかのデバイスでコントロール可能。 ご用途・ご予算に応じた提案を実現。 |
| 出展製品[6] | X線装置 XT・MCTシリーズ |
| 出展製品詳細[6] |
X線によって複雑な工業用部品の内部の画像を取得。 CT機能を使用して、スムーズかつ非破壊的プロセスであらゆる内寸、外寸を適正に定量化。 ■特徴 (1)自社開発開放管マイクロフォーカスX線源を搭載 お客様のアプリケーションのご要望に対して、革新的なソリューションのご提供が可能。 全ての線源で開放管を採用することで、低ランニングコストを実現。 160kVから450kVまで、幅広いマイクロフォーカス線源の製品をラインナップ。 小焦点サイズでシャープな画像が取得可能。 (2)実績のある画像処理技術 ニコンで培われた画像処理技術により、クリティカル工程対応、欠陥検出画像処理技術 を応用。 (3)国内におけるアフターサービスの充実 海外製品にありがちなアフターケアの遅延がなく、拠点各地のスタッフによる迅速な 対応・支援を実現。 (4)計測用CTシステムを標準ラインナップ 参照測定が不要で、内部・外部寸法を非破壊で効率よく計測が可能。 ■装置使用例 (1)自動車関係 コネクター、インジェクターノズル、センサー類、LEDライト、小型高圧ダイカスト部品、 ディーゼル微粒子捕集フィルター (2)航空宇宙関係 タービンブレード、欠陥解析、溶接部検査 (3)樹脂成形品 複雑形状、接触式や光学式では検査ができない軟体・半透明サンプル、超音波溶着部検査 (4)医療関係 ピルケース、小型樹脂部品、骨、インプラント(歯、腰、膝など) (5)研究 材料解析(構造、空隙、欠陥など)、古生物学(骨、骸骨、化石など)、地質学・土壌学、 考古学、エネルギー(バッテリー、太陽光発電セルなど) |
| 出展製品[7] | 万能投影機 V-20B／12Bシリーズ |
| 出展製品詳細[7] |
精密ステージ、データ処理装置等との組み合わせによって形状・寸法を観察・測定する検査機です。 自動車・工作機械・電子部品などの産業で精密部品、金型等の測定・検査に威力を発揮します。 大型万能投影機V-20Bは、スクリーン有効径500mmの大型投影機です。 大型ステージが装着可能で、デジタルカウンター、デジタルプロトラクター（＊１）を内蔵しています。 卓上型万能投影機V-12Bシリーズは、スクリーン有効径305mmの万能投影機です。 ヘッド部上下動方式で、長ストロークのステージの搭載が可能です。 正立正像のタイプで、デジタルプロトラクター・カウンター内蔵タイプもあります。 1939年に誕生した、ニコン万能投影機の活躍の場は、 航空機・大型工作機械をはじめ、電子部品・金型などの各分野に至るまで大きく広がっています。 万能の名にふさわしい、広範囲な役割を果たすニコン万能投影機の歴史は、 数々の技術革新を支えてきた、ニコンの技術の歴史でもあります。 主な仕様） １．万能投影機 V-20B ・・スクリーン有効径 500mm、被検物最大高さ 150mm ２．万能投影機 V-12Bシリーズ ・・スクリーン有効径 305mm、被検物最大高さ 100mm（＊２） ３．ステージタイプ/耐荷重（共通） ・・50x50mm/5kg、100x100mm/15kg、150x100mm/15kg、200x150mm/20kg、250x150mm/20kg ４．指示精度（共通） ・・3＋L/50μm（補正後、積算質量1kg以下）、3.5＋L/50μm（補正後、回転テーブル搭載時） ＊１．スクリーン回転による角度測定機能。 ＊２．200x150mm以上のステージ搭載時は70mmとなります。 |
| 出展製品[8] | デジマイクロ MF-1001／MF501／MH-15M |
| 出展製品詳細[8] |
小型精密機器や電子部品の厚み・段差などを最大0.01μm単位で測定ができます。 測定数値をデジタル画面に表示しひと目で確認できるカウンタやパソコンに取り込む専用ソフトもご用意。 幅広い分野の測定作業に使用されています。 日々、進歩を遂げているロボティクス分野や産業機器分野では、測定・制御用センサの役割がますます高まっています。 そんな測定・制御用センサのひとつとして、エンコーダには、より高精度、高機能、高信頼性が求められています。 ニコンでは、持てる技術の粋を結集して高性能なエンコーダ製品を開発、ご提供をしております。 主な仕様） １．MF-1001（本体）+ カウンタMFC-101A ・・測定範囲：0~100mm、最小読取値：0.1μm（切替により0.5μm、1μmも可能。）、精度（20℃）：3μm ２．MF-1001（本体） ＋ カウンタTC-101A ・・測定範囲：0~100mm、最小読取値：0.01μm（切替により5μm、1μm、0.1μm、0.05μmも可能。）、精度（20℃）：3μm ３．MF-501（本体）+ カウンタMFC-101A ・・測定範囲：0~50mm、最小読取値：0.1μm（切替により0.5μm、1μmも可能。）、精度（20℃）：1μm ４．MF-501（本体） ＋ カウンタTC-101A ・・測定範囲：0~50mm、最小読取値：0.01μm（切替により5μm、1μm、0.1μm、0.05μmも可能。）、精度（20℃）：1μm ５．MF-15M（本体） ＋ カウンタTC-101A ・・測定範囲：0~15mm、最小読取値：0.01μm（切替により5μm、1μm、0.1μm、0.05μmも可能。）、精度（20℃）：0.7μm |
| 出展製品[9] | 測定顕微鏡ＭＭシリーズ・データ処理/測定支援システム ＤＰ－Ｅ１Ａ／ＥーＭＡＸシリーズ |
| 出展製品詳細[9] |
「高精度と使いやすさ」を追求し、幅広いニーズにお応えするラインアップ。 ＭＭ－シリーズは、測定の高精度化やシステムとの連携など、 様々な機能を強化した、ニコンならではの自信作。 この度、ＭＭー４００／８００シリーズ用のステージを一新。 使いやすさと精度をさらに向上させました。 (1)ＭＭ－２００ 場所を選ばないコンパクトなボディに、高品質な測定機能を凝宿。 ハイコストパフォーマンスに大注目！ ・測定範囲５０ｍｍ×５０ｍｍの一体型ステージ ・多彩な照明装置と高輝度白色ＬＥＤ光源 ・現場にあわせたＡ３サイズ省スペース化を実現 (2)ＭＭ－４００／８００ 多彩なオプションを選択可能。 ・フォーカスエイド：対物レンズの焦点深度による高さ測定誤差を軽減できます ・８方向ＬＥＤリングライト：樹脂成型品など、通常の照明では見えにくかったエッジを際立たせます ・Ｚ電動：正確な上下動作が軽快に行えてオペレーターに負担をかけません ・Ｚ軸リニアエンコーダー：Ｚ軸スケールを内蔵した両軸ハンドルタイプ ・可変倍率：低倍と高倍、２本の対物レンズを搭載でき、簡単に切り替え可能です ・ユニバーサルタイプ：明視野・暗視野・簡易偏光・微分干渉観察が可能です ・デジタル角度接眼レンズ：観察系の視野内にある十字線を回転させ、角度のデジタル測定を行います ■データ処理/測定支援システム ＤＰ－Ｅ１Ａ／ＥーＭＡＸシリーズ (1)データ処理装置 ＤＰ－Ｅ１Ａ 測定システム全体での精度向上、作業効率アップのニーズに応えて開発された、新しいデータ処理装置です。 カウンター表示を一体化したコンパクトタイプながら、３２０×２４０ピクセルの液晶画面を採用したことで使いやすさが大幅に向上。 測定結果はＵＳＢメモリーに保存して、簡単に持ち運び可能です。 (2)測定支援システム Ｅ－ＭＡＸ デジタルカメラ及び測定顕微鏡との組み合わせにより、高精度な顕微鏡デジタル測定を実現。 二次元データ処理から画像測定、データ保存まで、高度で豊富な測定・処理機能が容易に使いこなせます。 |
| 出展カテゴリ |
K. 精密測定機器・光学測定機器各種測定器 三次元測定器 形状・あらさ測定機器 自動精密測定機器 投影機 金属顕微鏡 その他 |
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